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SMT首件测试仪有多少种测试方法?
日期:2024-12-28 09:35
作者:宝尔威
浏览量:153
以下是首件测试的常用方法介绍,这些方法根据企业的不同生产需求进行选择,虽然方法各异,但最终效果相同。
- 人工仪表检查:
- LCR测量(电桥测试):
- 适用对象:简单电路板,元件较少,无集成电路,仅有无源元件。
- 方法:使用LCR测量电路板上的元件,与BOM上的组件评级对比。
- 优点:成本低,只需一个LCR即可运行,广泛应用于SMT装置。
- 缺点:适用范围有限。
- FAI首条测试仪:
- 组成:由LCR桥主导的FAI软件组成。
- 方法:将产品BOM导入FAI系统,使用桥接夹具测量首样组件,系统用输入的BOM数据进行检查。
- 优点:测试过程软件显示结果,减少误测,节省人力成本。
- 缺点:前期投入较大。
- AOI测试:
- 适用对象:所有电路板。
- 方法:通过电子元器件的外形特性确定焊接技术问题,检查颜色、IC上丝印等判定错件问题。
- 优点:常见且适用于所有电路板,检查全面。
- 缺点:无特定缺点,但需配置相应设备。
- X射线检查:
- 适用对象:BGA、CSP、QFN封装元件等有隐蔽焊点的电路板。
- 方法:使用X射线检查生产的首件,X射线图显示焊点质量。
- 优点:穿透力强,全面反映焊点质量,包括开路、短路等。
- 缺点:设备成本高,操作需专业。
- 飞针测试:
- 适用对象:小批量生产、开发阶段。
- 方法:易于测试,程序可变,通用性好,可测试所有型号电路板。
- 优点:灵活性强,通用性好。
- 缺点:测试效率低,每块板测试时间长。
- ICT测试:
- 适用对象:已量产的车型,生产量大。
- 方法:使用专用夹具测试电路板,测试效率高。
- 优点:测试效率高,适合大批量生产。
- 缺点:制造成本高,每个型号需专用夹具,夹具使用寿命有限。
总结:
首件测试方法多种多样,企业应根据自身生产需求、成本预算和测试效率等因素综合考虑,选择最适合的测试方法。无论选择哪种方法,都应确保测试结果的准确性和可靠性,以保证产品质量和生产效率。